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- 1951 USAF照相用紙分辨率標(biāo)板
1951 USAF照相用紙分辨率標(biāo)板 因?yàn)槌上裣到y(tǒng)經(jīng)常按分辨率和對(duì)比度分類，我們的照相用紙標(biāo)板可以讓使用者用標(biāo)準(zhǔn)的USAF格式在不同對(duì)比度下評(píng)估他們的系統(tǒng)。例如，這個(gè)標(biāo)板在鏡頭設(shè)計(jì)者開發(fā)低分辨率高對(duì)比度，而不要求更高分辨率下的對(duì)比度時(shí)很有用。可以極簡(jiǎn)易的分辨出同樣的極限分辨率下，兩個(gè)鏡頭在較低分辨率時(shí)對(duì)比度上的差異。
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- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- USAF透射光路測(cè)試板
USAF透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒有光學(xué)材料，光線通過空氣傳播，這樣就去除了色差和吸收問題，本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖，1組元到3組圖，6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡（上方）可用在NUV場(chǎng)合，而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。這種電鑄模式的標(biāo)板裝在兩個(gè)圓板之間，可以安裝到我們的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置#64
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- 采用朗奇刻線法制作的高精度測(cè)試片
采用朗奇刻線法制作的高精度測(cè)試片 高精度的Ronchi Ruling玻璃標(biāo)板是評(píng)估分辨率，畸變和焦面穩(wěn)定性的*工具。有許多不同分辨率版本可選，包括英制的（線對(duì)/英寸），公制的（線對(duì)/毫米）。規(guī)格為方形1”, 2”, 4”和6”。
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- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- I3A/ISO 12233 分辨率測(cè)試卡
I3A/ISO 12233 分辨率測(cè)試卡可用來測(cè)試相機(jī)的電子靜態(tài)圖象分辨率，符合ISO 12233標(biāo)準(zhǔn)。不管模擬或數(shù)字相機(jī)，還是黑白照片和彩色攝影機(jī)都可以使用與這張測(cè)試圖。 也可以測(cè)量人眼的分辨率，極限分辨率，也可以作為一種簡(jiǎn)單而方便的方法測(cè)頻率響應(yīng)的數(shù)據(jù)，與測(cè)相機(jī)的MTF值相似。圖片的分辨率范圍從100到 2000LW/PH（高度方向線數(shù)）高精度可達(dá)0.1mm。
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- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- IEEE 標(biāo)板
IEEE 標(biāo)板為成像系統(tǒng)提供了一個(gè)初始像，可用來測(cè)試多種相機(jī)系統(tǒng)的鑒別率。同一個(gè)成像系統(tǒng)在水平視場(chǎng)和垂直視場(chǎng)、中心視場(chǎng)和邊緣視場(chǎng)、以及四周分辨率都不盡相同，而通過使用本品就可一目了然；加之本產(chǎn)品可用于檢測(cè)線性掃描、屏幕寬高比、明暗以及間隔，非常適用于對(duì)比和標(biāo)定多種視頻系統(tǒng)，重復(fù)精度高。
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- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
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- NBS 1963A 分辨率測(cè)試板
NBS 1963A 分辨率測(cè)試板 采用NBS 1963A分辨率圖案，既可用正片（圖案黑色，背景透明）， 也可用負(fù)片（背景黑色，圖案透明），可用于精密光學(xué)測(cè)試，各測(cè)試片采用盒裝。
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- 更新日期：2023-12-20 ￥面議
